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    丹佛斯軟啟動器MCD500--可控硅(SCR)損壞原因分析

    時間:2018-02-08    作者:津信變頻    點擊:

    本文討論的是丹佛斯軟啟動器可控硅(SCR)損壞故障的檢修過程和故障分析。供大家參考。
    上海津信變頻器技術服務中心最近去現場維修一臺丹佛斯軟啟動器MCD500,客戶反映是該軟啟動器剛啟動,負載堵轉,連續啟動幾次,沒有啟動成功,最后導致可控硅(SCR)損壞。
    一:故障現象:
    軟啟動器可控硅損壞,前級保險絲沒有損壞。
    二:工況說明:
    現場接線:
    根據現場了解接線圖,我們可以看出,該軟啟動器是一拖多臺電機啟動。根據現場了解的情況,該軟起啟動好一臺電機后,在很短時間內(大約10秒),啟動另外一臺電機。
    前級保險絲:

    上圖為客戶現場使用的保險絲,為普通的保險絲。根據丹佛斯VLT軟啟動器MCD500操作手冊(MG.17.K2.41)P23頁上說明,軟起動器的主回路器件是可控硅,由于可控硅無自關斷能力,因此在發生短路的時候無法靠電子線路快速響應關斷的辦法進行短路保護,必須采用半導體器件保護用快速熔斷器進行短路保護。顯然使用該保險絲不符合丹佛斯軟啟動器的要求。
    重新啟動延時參數設置:
     
    上圖為該軟啟動器重新啟動延時的參數設置,只有短短的10秒時間。根據丹佛斯VLT軟啟動器MCD500操作手冊(MG.17.K2.41)P19頁上的說明,MCD5-0360C軟啟動器重新啟動延時必須大于570秒。AC-53b:3-30:570。而客戶實際只設置了10秒。
     
    故障原因分析:
    根據現場客戶的說明,當時軟啟動器帶的電機出現堵轉現象,后來就發生了故障。排除了電機堵轉后,更換軟啟動器,系統就運行正常。
    由于該軟啟動器在啟動過程中,電流是額定電流的3.5倍(參數1-4,1-5設置為350%,啟動時,可控硅的溫度在啟動的短時間內會快速上升,需要丹佛斯軟啟動器操作說明上要求的時間內散熱,等溫度降低到正常值時才可以再次啟動。因此,這次軟啟動器損壞的原因就是頻繁啟動導致。
     
    解決方案:
    1.    更換軟啟動器的可控硅(SCR)
    2.    為了保證軟啟動器正常的散熱,將啟動延時參數P2-11設置為600秒。
    3.    將軟啟動器前級的普通保險絲更換為具有保護能力的快速熔斷器。
     
     
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